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賽多利斯分析電子天平初次測試誤差較大是什么原因造成的?

更新時(shí)間:2020-10-13      點(diǎn)擊次數(shù):1244
  賽多利斯分析電子天平是一種非常精密的儀器和設(shè)備,用戶使用中容易出現(xiàn)一些故障,例如初始測量測試中的較大偏差。那么這是電子天平本身存在質(zhì)量問題還是其他原因?我們一起來看一下。
 

賽多利斯分析電子天平

  分析天平是定量分析中*的重要工具,通常,它是指可以稱量0.0001g(0.1mg)的天平,并且是一種準(zhǔn)確稱量某些質(zhì)量物質(zhì)的儀器。賽多利斯分析電子天平是一種通過電磁力平衡物體重力的天平,其特點(diǎn)是稱量準(zhǔn)確可靠,顯示快速清晰,自動檢測系統(tǒng),簡單的自動校正裝置和過載保護(hù)裝置。在驗(yàn)證中,我們發(fā)現(xiàn)初始測量測試中的天平偏差較大,原因是天平長時(shí)間未校準(zhǔn),以為天平顯示零位,則可以直接稱重,由此便造成測量誤差。因此,在稱重之前,應(yīng)檢查天平是否正常,天平是否處于水平位置,吊耳和吊環(huán)是否脫落,玻璃框的內(nèi)部和外部是否干凈。
  必須要指出的是,賽多利斯分析電子天平在啟動后顯示的零點(diǎn)不能表示天平稱量的數(shù)據(jù)精度符合測試標(biāo)尺,而僅表示天平的零位是合格的。為了衡量天平是否合格,有必要考慮其他技術(shù)指標(biāo)的符合性。由于存放時(shí)間長,位置移動,環(huán)境變化等原因,天平應(yīng)在使用前進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)方法分為內(nèi)部校準(zhǔn)和外部校準(zhǔn),如果在使用前不仔細(xì)閱讀復(fù)印件,很容易忽略“校準(zhǔn)”操作,從而導(dǎo)致較大的稱量誤差。
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